1, Yalıtım direncinin test edilmesi
Yalıtım direnci, tel ve kablo ürünlerinin yalıtım özelliklerini yansıtan, elektriksel dayanım, dielektrik kaybı ve çalışma koşulları altında yalıtım malzemelerinin kademeli olarak bozulmasıyla yakından ilişkili önemli bir göstergedir.
Yalıtım direncinin ölçülmesiyle, kuru yalıtım veya hasarlı ve nemli kılıflar gibi süreçteki kusurlar keşfedilebilir; Yalıtım kirlenmiş ve iletken yabancı maddelerle karışmış; Çeşitli sebeplerden dolayı izolasyon çatlaması. Tellerin ve kabloların çalışması sırasında, güvenli bir şekilde çalışmaya devam edip edemeyeceklerinin ana temeli olarak yalıtım direncinin ve kaçak akımın sıklıkla test edilmesi gerekir.
2, Kapasitans ve kayıp faktörünün ölçümü
Bir kabloya AC voltajı uygulandığında içinden akım akar. Gerilimin genliği ve frekansı sabit olduğunda kapasitif akımın büyüklüğü kablonun kapasitansı (Cx) ile orantılıdır. Ultra-yüksek gerilim kabloları için kapasitörün akımı, nominal akımla karşılaştırılabilir bir değere ulaşabilir, bu da kablo kapasitesini ve iletim mesafesini sınırlayan önemli bir faktör haline gelir. Bu nedenle kablonun kapasitansı aynı zamanda kablonun temel elektriksel performans parametrelerinden biridir.
Kapasitans ve kayıp faktörünün ölçümü yoluyla yalıtım nemi, yalıtım katmanı ve koruyucu katman ayrılması gibi çeşitli yalıtım bozulma olguları keşfedilebilir. Bu nedenle hem kablo imalatında hem de kablo işletmeciliğinde kapasitans ve TAN ölçümleri yapılmaktadır. Yüksek-gerilim kabloları için, Cx ve TAN ölçümü yüksek frekanslı gerilim çalışma koşulları altında, genellikle yüksek-gerilim Xilin köprüsü kullanılarak gerçekleştirilir. Son yıllarda akım oranlı trafo köprüleri de kullanılmaya başlanmıştır.
3, Kısmi deşarj ölçümü
Elektriksel ölçüm yöntemi: Kısmi deşarjı ölçmek için, deşarj tarafından üretilen anlık yük değişimine dayalı olarak deşarj darbesini ölçebilen birçok yöntem vardır;
Akustik ölçüm yöntemi: Gerilim, deşarj sırasında oluşan ultrasonik dalgalara göre de ölçülebilir;
Işık ölçüm yöntemi: Deşarjın ürettiği ışığa bağlı olarak ışığın yoğunluğunu da ölçebilir;
